芯片接觸角檢測(cè)儀免除繁瑣的傳統(tǒng)測(cè)量操作

更新時(shí)間：2022-02-22

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　　芯片接觸角檢測(cè)儀用于測(cè)試液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性，即各種液體對(duì)各種固體材料所形成的接觸角的大小判斷其浸潤(rùn)水性。

　　接觸角是指在氣、液、固三相交點(diǎn)處所作的氣-液界面的切線，此切線在液體一方的與固-液交界線之間的夾角θ，是潤(rùn)濕程度的量度。液體在固體材料表面上的接觸角，是衡量該液體對(duì)材料表面潤(rùn)濕性能的重要參數(shù)。通過接觸角的測(cè)量可以獲得材料表面固-液、固-氣界面相互作用的許多信息。

　　接觸角測(cè)量技術(shù)不僅可用于常見的表征材料的表面性能，而且接觸角測(cè)量技術(shù)在石油工業(yè)、浮選工業(yè)、醫(yī)藥材料、芯片產(chǎn)業(yè)、低表面能無毒防污材料、油墨、化妝品、農(nóng)藥、印染、造紙、織物整理、洗滌劑、噴涂、污水處等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。

　　測(cè)量方法：

　　1、切線法：常規(guī)方法，需手工切線，誤差較大。

　　2、圓法：也叫寬高法，θ/2法，利用三點(diǎn)擬合一個(gè)圓形（開放式存在，能更好的看清楚是否貼合在一起），從而計(jì)算出接觸角度。適用于<20°角度的接觸角測(cè)量。

　　3、橢圓法：當(dāng)接觸角度超過20度時(shí)，此時(shí)已不是一個(gè)常規(guī)的圓形，而近似一個(gè)橢圓形，橢圓法用五點(diǎn)擬合橢圓形，從而計(jì)算出接觸角度。適用于>20°<120°角度測(cè)量。

　　4.Laplace-Young法：適用于>120°超疏水角度的測(cè)量。但是Laplace-Young法有一個(gè)缺點(diǎn)，就是圖象一定要非常清晰和完整，需自動(dòng)擬合，并且左右兩邊的角度要均勻。

　　而芯片接觸角檢測(cè)儀可以免除以上的繁瑣操作，方法是在一固體水平平面上滴一液滴，測(cè)試固體表面上的固—液—氣三相交界點(diǎn)處，其氣—液界面和固—液界面兩切線把液相夾在其中所成的角即為接觸角。

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